規(guī)格參數：

1．測量范圍：2～24μm、10～120μm  
2．測量面積：標準6∮mm ，微型3∮mm
3．測量單位：多種英制公制可切換
4．測量對象：非金屬上的金屬膜厚
5．本體尺寸：280（W）*88（H）*230（D）mm
6．本體重量：3.0kg
7．使用電壓：AC110V（220V）/50,60Hz

儀器特點：

1.絕緣物上的金屬鍍層（印刷基板上的銅箔、電鍍等）都能在極短時間內（0.7秒）得到高精度測量。
2.采用4探針探頭（kelvin式），不受雙面板和金屬板之里層及內層影響，可得到高精度測量。
3.應用計算機操作畫面大、明亮、清晰。
4.校正、測定、操作很簡單，可選擇2種測量范圍，可測2~120um的金屬鍍層。
5.使用者姓名、批號可登錄在頻道內，共有40個頻道可以登錄且有利于做頻道的管理。
6.每個頻道的測量數據可以被儲存下來，測量資料亦可以被其所設定之統(tǒng)計項目執(zhí)行統(tǒng)計處理。
7.統(tǒng)計處理、柱狀圖、分布圖、×-R管制圖，隨時可查閱。
8.可設定膜厚上下限管制，對異常值會提示告知。
9.探頭的探針破損時，可以更換探針并以低價修理。